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產(chǎn)品分類(lèi)

哈納代理
- COD測(cè)定儀
- 哈納電導(dǎo)率儀/電阻率儀
- 多參數(shù)水質(zhì)測(cè)定儀
- 哈納ph計(jì)/酸度計(jì)
- 哈納代理
- 哈納可見(jiàn)光光度計(jì)
- 哈納酸度測(cè)定儀
- 哈納氟化物濃度測(cè)定儀
- 哈納磁力攪拌器
- 哈納溶解氧測(cè)定儀
- 哈納鹽度標(biāo)準(zhǔn)緩沖液
- 哈納鹽度計(jì)
- 光度計(jì)
- 哈納濁度儀
- 哈納水質(zhì)分析儀
哈希代理
- 溶液電導(dǎo)率儀
- 溶解氧測(cè)定儀
- 哈希分光光度計(jì)
- 哈希比色計(jì)
- 哈希色度檢測(cè)儀
- 余氯分析儀
- 在線(xiàn)分析儀
- 氨氮測(cè)定儀
- 哈希代理
- 水質(zhì)毒性分析儀
- 水質(zhì)分析儀
杭州思看
- 三維掃描儀
- 掃描儀
英國(guó)泰勒霍普森 Taylor Hobson
- 自準(zhǔn)直儀
- 圓度儀
- 輪廓儀
- Surtronic 25
- 泰勒經(jīng)銷(xiāo)商
- Surtronic DUO
- 泰勒經(jīng)銷(xiāo)商粗糙度儀
- 粗糙度儀
- Surtronic S116
德國(guó)Fischer菲希爾
- 孔隙率測(cè)試儀
- x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀
- 菲希爾
- 致密性測(cè)試儀
- 電解測(cè)厚儀
- 探頭
- 電導(dǎo)率儀
- 庫(kù)侖測(cè)厚儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 鐵素體含量測(cè)定儀
- MP0測(cè)厚儀
- 菲希爾測(cè)厚儀
- 測(cè)厚儀
- 菲希爾代理
德國(guó)Sensopart森薩帕特
- 激光測(cè)距傳感器
- 太陽(yáng)能傳感器
- 電感傳感器
- 槽型傳感器
- 光纖傳感器
- 對(duì)比度傳感器
- 顏色傳感器
- 熒光傳感器
- 測(cè)距傳感器
- 視覺(jué)傳感器
- 電容式傳感器
- 光電傳感器
- 超聲波傳感器
- 激光位移傳感器
德國(guó)Elektrophysik EPK
- 針孔探測(cè)器
- 渦流測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀
- 庫(kù)倫法測(cè)厚儀
- 測(cè)厚儀配件
德國(guó)艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
- W5
- 霍梅爾粗糙度儀
- W10
- Hommel代理
- Hommel粗糙度儀
- 粗糙度儀
德國(guó)BYK
- 桔皮儀
- 濕膜輪測(cè)厚儀
- 劃格器
- 干膜測(cè)厚儀
- BYK光澤度儀
德國(guó)馬爾 Mahr
- 馬爾薄膜測(cè)厚儀
- 機(jī)械比較儀
- 測(cè)高儀
- PocketSurf
- 粗糙度儀
- 馬爾粗糙度儀
- MarSurf PS1
- Perthometer M1
- MarSurf M300C
德國(guó)尼克斯QNix
- 測(cè)厚儀
- QNix 1500測(cè)厚儀
- QNix 7500測(cè)厚儀
- QNix 8500測(cè)厚儀
- QNix 4500測(cè)厚儀
- 尼克斯涂層測(cè)厚儀
- QNix測(cè)厚儀
- 德國(guó)尼克斯測(cè)厚儀
德國(guó)馬爾Mahr
- 粗糙度儀
- 薄膜測(cè)厚儀
- 測(cè)高儀
- 千分尺
- MarSurf M400/PocketSurf
- 粗糙度儀配件
- MarSurf M300/300C
- Perthometer M1/M2/S2粗糙度儀
- MARSURF PS1/PS10粗糙度儀
美國(guó)SDI
- 車(chē)窗防夾力測(cè)試儀
美國(guó)FLIR
- 紅外測(cè)溫儀
- 紅外熱像儀
美國(guó)Mark-10
- 瓶蓋扭力計(jì)
- Mark-10測(cè)力計(jì)
美國(guó)狄夫斯高 Defelsko
- 露點(diǎn)儀
- 粗糙度儀
- 氣體檢漏儀
- 粉末測(cè)厚儀
- 鹽分測(cè)試儀
- 附著力測(cè)試儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
美國(guó)GE
- 測(cè)厚儀探頭
- 渦流探傷儀
- 超聲波硬度計(jì)
- 回彈法硬度計(jì)
- 美國(guó)GE超聲波測(cè)厚儀
- 美國(guó)GE超聲波探傷儀
- Krautkramer USM 36
- 美國(guó)GE測(cè)厚儀
- 美國(guó)GE
- 美國(guó)GE探傷儀
- 測(cè)厚儀
- GE美國(guó)通用電氣
- 點(diǎn)焊縫超聲波探傷儀
- 硬度計(jì)
- 探傷儀
- 超聲波探傷儀
- 超聲波測(cè)厚儀
美國(guó)福祿克Fluke
- 激光測(cè)距儀
- 激光軸對(duì)中儀
- 紅外測(cè)溫儀
- 熱像儀
- 紅外熱像儀
- Fluke測(cè)振儀
美國(guó)API
- api激光跟蹤儀
- 美國(guó)API激光干涉儀
英國(guó)易高Elcometer
- 附著力試驗(yàn)儀
- 孔隙探測(cè)儀
- 漆膜測(cè)厚儀
- 粗糙度儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- 易高干膜測(cè)厚儀
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
- 美能達(dá)
- 光澤度儀
- 亮度計(jì)
- 色度儀
- 照度計(jì)
- 測(cè)色儀
- 色差儀
日本三豐Mitutoyo
- 千分尺
- 卡尺
- 高度尺
- 高度儀
- SJ210
- 三豐便攜式粗糙度儀
- Mitutoyo表面粗糙度儀
- 日本三豐粗糙度儀
- SJ-410
- SJ-310
- 粗糙度儀
瑞士TESA
- 千分尺
- 高度計(jì)/測(cè)高儀
- RugoSurf 10G
- 粗糙度儀
瑞士TRIMOS
- 測(cè)高儀
瑞士博勢(shì) Proceq
- 硬度計(jì)
- 超聲波測(cè)厚儀
- 洛氏硬度計(jì)
- 里氏硬度計(jì)
- Zonotip
- 便攜式里氏硬度計(jì)
香港嘉儀CanNeed
- 壁厚測(cè)厚儀
- 霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀
弗勞恩霍夫
- 感應(yīng)淬火層測(cè)厚儀

技術(shù)文章

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Rockwell自動(dòng)化 CompactLogix系統(tǒng)如何選擇？

點(diǎn)擊次數(shù)：2356 更新時(shí)間：2020-02-18

CompactLogix

控制器

選擇控制器：
• CompactLogix™ 5370 控制器
• Compact GuardLogix® 5370

控制器
• CompactLogix 5380 控制器
• Compact GuardLogix 5380

控制器
• Armor™ CompactLogix 控制器
• Armor Compact GuardLogix

控制器

CompactLogix

通信選項(xiàng)

選擇
• 網(wǎng)絡(luò)
– EtherNet/IP 模式
– EtherNet/IP 網(wǎng)絡(luò)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)
– 網(wǎng)絡(luò)波特率
• 通信接口
• 相關(guān)電纜和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備

CompactLogix

和 Compact

GuardLogix

集成運(yùn)動(dòng)

選擇
• CompactLogix 5370、Compact

GuardLogix 5370、CompactLogix 5380

或 Compact GuardLogix 5380

控制器，用于實(shí)現(xiàn)基于
EtherNet/IP 網(wǎng)絡(luò)的集成運(yùn)動(dòng)控制
• 變頻器、電機(jī)和附件 ( 使用運(yùn)動(dòng)

控制分析器

本地 I/O 模塊

選擇
• Compact 5000™ I/O、 1734 POINT

I/O™或 1769 Compact I/O™

• 相關(guān)電纜和附件

CompactLogix

電源

選擇

• 額外 1769 電源 ( 視需要而定 )

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