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菲希爾測厚儀X射線XAN215信息
點擊次數(shù):45 更新時間:2026-01-04
菲希爾 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 215 是一款入門級經(jīng)濟(jì)型 X 射線熒光測厚儀,專為珠寶、錢幣和貴金屬的無損成分分析與鍍層厚度測量設(shè)計,具備高性價比、操作簡便、精度可靠的特點,符合 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568 標(biāo)準(zhǔn)
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XAN215核心功能與測量能力
1. 分析能力
成分分析:可分析金、銀、鉑、鈀、銠等貴金屬及其合金,包括黃 / 白金、K 金等
鍍層測厚:適用于單層 / 多層鍍層系統(tǒng),如金鍍層、銠鍍層等厚度測量
基礎(chǔ)參數(shù)法:無需校準(zhǔn)即可分析固體、液體樣品及鍍層系統(tǒng),提高測量靈活性
2. 操作與軟件系統(tǒng)
控制軟件:標(biāo)配 WinFTM® BASIC 軟件,可選 WinFTM® SUPER 高級版
數(shù)據(jù)處理:PC 端操作,支持?jǐn)?shù)據(jù)管理、報告生成、結(jié)果可視化
用戶交互:直觀界面,簡化測量流程,減少培訓(xùn)成本

