Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性?xún)r(jià)比的詳細(xì)資料：

Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性?xún)r(jià)比

Dualscope FMP20：
由于自動(dòng)基板材料識(shí)別和兩種測(cè)量方法的結(jié)合，該通用儀器能夠測(cè)量鐵/鋼和非鐵磁金屬以及非導(dǎo)電材料上的許多涂層。根據(jù)您的測(cè)量應(yīng)用，您可以根據(jù)磁感應(yīng)法，渦流法或根據(jù)兩種方法組合在一臺(tái)儀器中進(jìn)行的涂層厚度測(cè)量。

Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性?xún)r(jià)比

磁感應(yīng)測(cè)量原理

采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線(xiàn)圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來(lái)調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）?，F(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來(lái)測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

電渦流測(cè)量原理

高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測(cè)頭專(zhuān)門(mén)測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱(chēng)之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

  采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適。

Dualscope FMP20兩用法涂鍍層測(cè)厚儀高性?xún)r(jià)比

主要特點(diǎn)：
自動(dòng)探頭識(shí)別
用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C的USB端口
大顯示器豐富的對(duì)比度 - 240x160像素
內(nèi)存多達(dá)1000個(gè)讀數(shù)
測(cè)量采集時(shí)的聲音信號(hào)
顯示平均值，標(biāo)準(zhǔn)差，zui小值，zui大值和范圍
容易適應(yīng)樣品的形狀
使用一個(gè)或兩個(gè)校準(zhǔn)箔的附加校正校準(zhǔn)
用于材料和幾何特性的特征設(shè)置的主校準(zhǔn)
能夠?qū)⒅餍?zhǔn)存儲(chǔ)在連接的探頭中
測(cè)量單位可以在m和mil之間切換
可調(diào)節(jié)儀器關(guān)閉或連續(xù)操作
低電量指示
可鎖定鍵盤(pán)/限制操作模式
機(jī)械滑塊覆蓋測(cè)量操作不需要的鍵
各種語(yǔ)言設(shè)置